寧波志興光学技術有限公司
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迷光でストライプを台無しにしないでください: CGH 設計における「搬送波周波数」フィルタリングの技術を明らかにします14 2026-05

迷光でストライプを台無しにしないでください: CGH 設計における「搬送波周波数」フィルタリングの技術を明らかにします

非球面検査に携わっている人は、このもどかしい瞬間に遭遇したことがあるでしょう。光路は正しく設定されており、CGH も設置されていますが、干渉縞が霧の層で覆われているかのように十分に鮮明ではない、または背景に不要な「ゴースト」縞がぼんやりと浮かんでいるのが見えます。現時点で、問題はおそらく、CGH の最も独創的だが見落とされやすい設計面、つまり搬送周波数設計にあると考えられます。これは本質的に、物理光学レベルでの「信号精製」プロセスです。そして今日私たちが議論するのは、CGH がこの美しいフィルタリング技術を達成するために「搬送波周波数」をどのように利用するかということです。
CGH が「キャッツアイ」と出会うとき: 高精度非球面検査の重要なステップ12 2026-05

CGH が「キャッツアイ」と出会うとき: 高精度非球面検査の重要なステップ

非球面検査の分野では、CGH (コンスタント ハイライター) の機能がよく知られています。CGH (コンスタント ハイライター) は、測定対象のサンプルに完全に一致する基準波面を生成し、複雑な曲面を「測定可能」にします。しかし、面精度よりももっと根本的な、初心者が見落としがちな前提条件があります。それは、測定を開始する前に、測定対象のミラーとCGHの向きが理論的に設計された状態にあることをどのように確認するのでしょうか。ミラーがわずかに傾いたり、中心がずれたり、遠すぎたり、近すぎたりすると、干渉縞が変化します。これらの変化は表面エラーとして誤解されやすく、ミラー表面に問題があると思われがちですが、実際には向きが間違っていることが原因です。この問題を解決するために、CGH 検査システムではキャッツアイ構造が正確に設計されています。
面形状は正確だが中心がずれている?非球面加工で見落とされがちな「データム転写」の罠。09 2026-05

面形状は正確だが中心がずれている?非球面加工で見落とされがちな「データム転写」の罠。

表面形状をナノメートルレベルまで研磨しても、組み立て後の画像はひどいものになります。問題は研磨そのものではなく、「見る」と「組み立てる」のギャップにあるのかもしれません。非球面レンズの製造ワークショップでは、このシナリオは珍しいことではありません。検査報告書には、表面形状 (PV) が基準を完全に満たしており、RMS がナノメートル範囲内で制御されていることが明確に記載されています。しかし、レンズを取り付けると、ディストーション、非点収差、像面の傾きなど、画質が低下するだけです。多くの人が最初に抱く反応は、「検査データが不正確ではないか?」というものです。組み立てに問題がありますか?環境の乱れ?しかし、より微妙で見落としやすい可能性があります。基準送信が故障した可能性があります。
CGH テストでエラーが報告され続けますか?これらは、あなたが毎日遭遇する可能性のある「目に見えない殺人者」の一部です。08 2026-05

CGH テストでエラーが報告され続けますか?これらは、あなたが毎日遭遇する可能性のある「目に見えない殺人者」の一部です。

「CGH テストでまたエラーが報告されました」、「干渉縞が不安定です」、「再現性がなぜこんなに悪いのですか?」... あなたとあなたのチームが毎日非球面や自由曲面を扱っているなら、これらの不満は確かによくあることです。多くの人の最初の反応は、「CGH 自体に何か問題がある」というものです。設計上の欠陥があるのでしょうか?製造精度が足りないのでしょうか?しかし実際には、私たちが遭遇した数多くの現場事例では、真犯人は多くの場合 CGH ではなく、日常業務のあらゆる側面に潜んでいる、見落とされがちな「見えない殺人者」です。今日はそれらを一つ一つ公開していきます。
光学製造のアップグレード: 「経験とスキル」から「エンドツーエンドのデジタル化」への人材の反復06 2026-05

光学製造のアップグレード: 「経験とスキル」から「エンドツーエンドのデジタル化」への人材の反復

2018 年にこの業界に入って以来、私は同じ質問をよく受けてきました。なぜ国内の光学会社は世界クラスのハードウェアを持っているにもかかわらず、ハイエンド製品の提供に苦労しているのですか?多くの場合、その答えは見落とされている「才能のギャップ」にあります。以下の 3 つの実際の事例は、精密光学業界が日々支払っている「隠れたコスト」を明らかにしています。
システムが「不完全」であれば測定は不可能なのでしょうか?複雑な光路の検出ベンチマークを再構築するにはどうすればよいですか?24 2026-04

システムが「不完全」であれば測定は不可能なのでしょうか?複雑な光路の検出ベンチマークを再構築するにはどうすればよいですか?

精密な光学アセンブリと調整では、このような「厄介な」状況に遭遇することがよくあります。テスト対象のサブシステム自体が独立したイメージング機能を持たず、放射される波面が非常に乱雑で、干渉計が有効なデータを識別できないだけです。次のようなシナリオで作業している場合は、この「ブラインド テスト」のイライラをよくご存じかもしれません。
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